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          走進三亿体育

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          2021.03

          三亿体育科技X-RAY半導體芯片缺陷自動檢測技術取得重大突破

          半導體芯片在生產過程中不可避免地會出現殘次品,但封裝之後,其內部結構如有缺陷,無法直觀檢測和分揀出來。目前對於半導體的缺陷檢測,大多是採取單機X光成像設備,用人工目檢的方式進行抽檢。

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